ȸ»ç¼Ò°³
ȸ»ç¼Ò°³
CEO Àλ縻
ºñÁ¯
ȸ»ç¿¬Çõ
Á¶Á÷µµ
»ç³»¹®È
¿À½Ã´Â ±æ
»ç¾÷¿µ¿ª
»ç¾÷¿µ¿ª
³×Æ®¿öÅ©
Á¦Ç°¼Ò°³
°í°´Áö¿ø
°øÁö»çÇ×
È«º¸ÀÚ·á
ä¿ëÁ¤º¸
Contact us
> Á¦Ç°¼Ò°³ > PROBING TEST SYSTEM
e5-System
e5-SystemÀº ´Ù¼¸°³ÀÇ "e"¸¦ Concept·Î °³¹ßÇÑ Probing test systemÀÔ´Ï´Ù.
º¹À⼺À» ¹èÁ¦ÇÔÀ¸·Î½á °£´ÜÇÏ°í È¿À²ÀûÀÎ Wafer test ȯ°æÀ» °æÁ¦ÀûÀÌ°í ȯ°æÀ» ¹è·ÁÇÑ System ±¸¼ºÀ¸·Î Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.
»çÀÌÆ® ¼±ÅÃ
MICRONICS JAPAN CO,.LTD.
Taiwan MJC Co., Ltd.
ZMC TECHNOLOGIES PTE.LTD.
MPI Corporation