> Á¦Ç°¼Ò°³ > PROBING TEST SYSTEM  
   
 
 

e5-System

    e5-SystemÀº ´Ù¼¸°³ÀÇ "e"¸¦ Concept·Î °³¹ßÇÑ Probing test systemÀÔ´Ï´Ù.
º¹À⼺À» ¹èÁ¦ÇÔÀ¸·Î½á °£´ÜÇÏ°í È¿À²ÀûÀÎ Wafer test ȯ°æÀ» °æÁ¦ÀûÀÌ°í ȯ°æÀ» ¹è·ÁÇÑ System ±¸¼ºÀ¸·Î Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.